Näidiskaardistamine

Kliendi esitatud füüsilise näidise põhjal (isegi kui tegemist on kulunud või purunenud kasutatud osaga) pakume täisspektri teenust, mis ulatub füüsilise struktuuri pöördprojekteerimisest materjali tasemel füüsikalis-keemilise iseloomustuseni. Kasutades pooljuhtkvaliteediga ülitäpseid kontrolliseadmeid, kvantifitseerime täpselt keerulisi 3D geomeetrilisi struktuure, katte/põhimiku liidese omadusi ja materjali füüsikalisi parameetreid, tagades, et pöördprojekteeritud toode vastab ületab OEM-standardeid füüsilise sobivuse, protsesside ühilduvuse ja kasutusea osas (Form-Fit-Function Replacement).

Mida me mõõdame (tehnilised tooted):

• Mõõtmete ja geomeetrilised tolerantsid:Kasutades ülitäpseid koordinaatmõõtmismasinaid (CMM) ja optilisi 3D-skannereid, teostame täissuuruses punktpilvede modelleerimist ja keeruliste õõnsusstruktuuride ning montaaži/paigaldamise aukude rekonstrueerimist, saavutades mikronitaseme täpsuse.
• Pinna mikromorfoloogia ja tasasus:Valge valguse interferomeetrite ja optiliste profilomeetrite kasutamine nanomeetrilise pinna kareduse (Ra) ja suure ala tasasuse hindamiseks, mis vastab vahvlite käsitsemise ja kambri tihendamise nõuetele.
• Edge'i mikrofunktsioonid:Serva R-raadiuste ja faaside mikroprofiilide suure suurendusega kaardistamine, et optimeerida katte tõusu morfoloogiat ja vältida pingete koondumist teravatesse nurkadesse, mis võivad põhjustada kõrgel temperatuuril kihistumise.
• Grafiidist substraadi ja termilise sobitamise analüüs:Kõrge puhtusastmega grafiidist substraadi tiheduse, tera suuruse ja soojuspaisumisteguri (CTE) hindamine, et tagada substraadi ja CVD katte termilise pinge sobivus.
• Katte ristlõike ja liidese liimimise kvaliteet:Mittepurustav XRF ja metallograafiline ristlõike SEM analüüs absoluutse paksuse, CVD katte radiaalse ühtluse ja liidese läbitungimissügavuse mõõtmiseks.
• Faasi struktuur ja mikrokristallide analüüs:CVD SiC kuupfaasi (β-SiC) puhtuse XRD hindamine; CVD TaC keemilise stöhhiomeetria ja kristallstruktuuri omaduste kvalitatiivne hindamine.

Reaalse juhtumi ja kliendi eelised (kogemus):

12-tollise pooljuhtide söövituskomponendi klient:OEM-i tarnimine lõpetati; saadaval oli ainult üks kulunud osa. CMM-i pöördmodelleerimise + SEM-katte ristlõike analüüsi abil viisime 2 kuu jooksul lõpule asendusosade arendamise ja tööriistade testimise ilma originaaljoonisteta, saavutades 100% paigaldussobivuse. Lõppkokkuvõttes lühenes komponentide hankimise tsükkel algselt 6-kuuliselt impordilt 2 kuuni, ühiku hankekulud langesid 42% ja seda mudelit on stabiilselt tarnitud enam kui 30 partii jaoks.

Ränikarbiidi (SiC) kate SEM-katte ristlõikel

KKK

Alustage oma eksklusiivset teenust kohe