Uudised

SiC tööstuse juhtiva tootjana on Sanan Optoelectronicsiga seotud dünaamika pälvinud tööstuses laialdast tähelepanu. Hiljuti avalikustas Sanan Optoelectronics rea uusimaid arenguid, mis hõlmavad 8-tollise ümberkujundamist, uue substraaditehase tootmist, uute ettevõtete asutamist, valitsuse subsiidiume ja muid aspekte.

SIC ja ALN -i üksikkristallide kasvus, kasutades füüsilise auru transpordi (PVT) meetodit, mängivad üliolulist rolli sellised olulised komponendid nagu tiigli, seemnehoidja ja juhtrõngas. Nagu on kujutatud joonisel 2 [1], paigutatakse seemnekristall PVT -protsessi ajal madalamasse temperatuuripiirkonda, samas kui SIC tooraine puutub kokku kõrgemate temperatuuridega (üle 2400 ℃).

Räni karbiidi substraatidel on palju defekte ja neid ei saa otse töödelda. Kipi vahvlite valmistamiseks tuleb neil epitaksiaalse protsessi kaudu kasvatada konkreetset üksikkristall -õhukest kilet. See õhuke kile on epitaksiaalne kiht. Peaaegu kõik räni karbiidiseadmed on epitaksiaalsetel materjalidel realiseeritud. Räni karbiidiseadmete väljatöötamise aluseks on kvaliteetsed räni karbiidi homogeensed epitaksiaalsed materjalid. Epitaksiaalsete materjalide jõudlus määrab otseselt räni karbiidiseadmete jõudluse.

Ränikarbiid muudab pooljuhtide tööstuse üle jõu- ja kõrgtemperatuuriliste rakenduste jaoks koos selle põhjalike omadustega, alates epitaksiaalsetest substraatidest kuni kaitsekatteni kuni elektrisõidukite ja taastuvenergia süsteemideni.